X射線(xiàn)熒光光譜儀檢測分析原理

　　X射線(xiàn)熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進(jìn)行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線(xiàn)管達到了檢測限低和測量時(shí)間短的效果。具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。

　　X射線(xiàn)熒光光譜分析儀物理原理

　　當材料暴露在短波長(cháng)X光檢查，或伽馬射線(xiàn)，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會(huì )“回補”進(jìn)入低軌道，以下來(lái)的洞。在“回補”的過(guò)程會(huì )釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。廣泛應用于機械加工、鋼鐵貿易、船舶制造、工程公司、冶金等企業(yè)中。

　　X射線(xiàn)熒光光譜分析儀由激發(fā)系統、分光系統以及儀器控制和數據處理系統組成，具有的高靈敏度與寬動(dòng)態(tài)范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀。其高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測的度。

　　激發(fā)系統，主要部件為X射線(xiàn)管，可以發(fā)出原級X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線(xiàn)；

　　分光系統，對來(lái)自樣品待測元素發(fā)出的特征熒光X射線(xiàn)進(jìn)行分辨（主要為分光晶體）；探測系統，對樣品待測元素的特征熒光X射線(xiàn)進(jìn)行強度探測；

　　儀器控制和數據處理系統，處理探測器信號，給出分析結果。